智能介質(zhì)損耗測(cè)試儀廠家及價(jià)格

簡(jiǎn)要描述：智能介質(zhì)損耗測(cè)試儀廠家及價(jià)格技術(shù)規(guī)格　　1.介質(zhì)損耗因數(shù)tg δ: 　　　測(cè)量范圍：0-100% 　　　準(zhǔn) 確度：（1%讀數(shù)+0.0005）　　2.電容量Cx：　　　　測(cè)量范圍：3-40000pF（10KV）

產(chǎn)品型號(hào)： PCI6000

所屬分類：PCIμΩ/4型回路電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2016-07-04

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技術(shù)規(guī)格

1.介質(zhì)損耗因數(shù)tg δ:
測(cè)量范圍：0-100%
準(zhǔn) 確度：（1%讀數(shù)+0.0005）
2.電容量Cx：
測(cè)量范圍：3-40000pF（10KV）
3-100000Pf（3KV）
3.準(zhǔn)確度：（1%讀數(shù)+1pF）
4.環(huán)境溫度：0～40℃（當(dāng)溫度超出20℃±5℃時(shí)，每變化10℃儀器基本誤差的改變量不超過(guò)基本誤差限的1/2）
5.相對(duì)濕度：30%～85%
6.供電電源：電壓：220V±22V，頻率：50±1Hz
7.外形尺寸：440×330×400(mm)
8.重　　量：不大于23kg
9.電子電路功耗：不大于40VA

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